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浅析超声波检测的近场区和盲区

发布时间:2023年09月26日
超声波探伤中,常常遇到两个容易混淆的概念:盲区和近场区,今天简要辨析一下这两个概念。

1、近场区主要是由于波源附近声波的干涉而引起,盲区主要是由于仪器的发射脉冲特点和放大器性能而引起。

2、近场区里面超声波声压不规律,缺陷回波定量不准;盲区是缺陷回波信号不能被放大显示出来的区域。

3、近场的长度通过计算得出,盲区的大小通过测试测出。


一、近场区

1、近场区概念:

近场区也叫菲涅尔区,是由于波的干涉而在波源附近出现一系列声压极大值极小值的区域。波源轴线上**后一个声压极大值至波源的距离称为近场区长度。近场区的存在会导致缺陷回波的定量不准确。


2、近场区计算公式:


圆盘源的纵波近场长度公式:

(其中Ds为圆盘源的直径,λ为波长)

 

矩形源的纵波近场长度公式:

(其中Fs为矩形源的面积,λ为波长)

 

3、近场区的影响因素:


声源的面积Fs越大,近场长度N越大;

频率f越高、波长λ越小,近场长度N越大


二、盲区


1、盲区的概念:



超声仪的发射电路的发射脉冲在激励探头的同时,也直接进入接收电路,形成始波。由于发射脉冲电压很高,在短时间内放大器的放大倍数会降低,甚至没有放大作用,这种现象成为堵塞。由于发射脉冲自身有一定宽度,加上放大器的阻塞现象,因此发射脉冲开始后,放大器无法对输入信号做出响应。在靠近始波的一段时间内,所要求发现的缺陷往往不能发现,具体到被检工件中,这段时间所对应的由入射面进入工件的深度距离,成为盲区。

              

 

盲区也可以用时间域来表示

发射脉冲后的死区时间dead time after transmitter pulse,指的是脉冲回波技术时,放大器由于发射脉冲而饱和,使得发射脉冲启始后无法响音输入信号的时间。在标准《EN12668.1:2010无损检测 超声检测设备的特性和验证 **部分:仪器》和《ISO22232-1-2020 超声检测设备器材的特性和验证:**部分:仪器性能部分》中都采用类似的规定。

 

2、盲区的影响因素:


1、仪器的发射功率:发射功率大,检测灵敏度大,信号强度大,始脉冲宽,盲区大。所以在达到需要检测灵敏度前提下,降低发射功率可以减少盲区。

2、信号带宽:信号的带宽越窄,信号脉冲宽度越大,盲区越大。所以提高仪器和探头的组合带宽,可以减少盲区。

3、探头的设计:比如采用延迟块可以减少盲区,双晶探头采用一发一收形式,发射晶片和接收晶片之间采用隔声层隔离,克服了发射声束和接收声束间的相互干扰和阻塞,同时也带有延迟块,可以有效减少盲区。

 

3、盲区的测试:


盲区的测试一般有两类:

 

**类是测发射脉冲后的死区时间

见EN12668.1:2010和ISO22232-1-2020中的相应部分,得出的是时间,一般要求是不大于10μs。ISO22232-1-2020规定的测试示意图如下:

 

 

 

第二类是用试块近似测试

通用原理就是探测不同深度的反射体,找到**近的那个反射体,要求该反射体的回波能和始脉冲独立识别,这个**近的距离就是盲区。得出的距离。

 

通常利用CSK-1A试块上Φ50有机玻璃圆弧面距两侧边缘5mm和10mm的边距来测盲区大小,若探头置于I处有独立回波则盲区小于等于5mm。若I处无独立回波,II处有独立回波,则盲区在5~10mm之间。若II处仍无独立回波,则盲区大于10mm。(此处的“独立”意思是回波高度超过满屏50%以上时,且回波前沿和始波后沿相交的波谷满足低于10%满刻度。)

 

 

盲区的测试也可以通过盲区试块DZ-I来进行。测试原理也一样,把能和始脉冲独立分开的**短距离的孔的回波对应的孔的距离作为盲区。

 




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